手持X射線熒光光譜儀按照不同的應(yīng)用領(lǐng)域可分為：有害元素分析儀，合分析儀、土壤分析儀、貴金屬分析儀和礦石分析儀等一系列型，其中手持式能量色散礦石分析儀已廣泛應(yīng)用于各類地質(zhì)礦樣多元素檢測和分析、礦渣精煉分析及考古研究中。檢測樣品包括從硫至鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。
手持式光譜儀用于的定量定性分析：
手持式光譜儀是一種功能強大,并且可擴展的手持式光譜儀,廣泛用于金屬材料的成分分析,牌號鑒別和分選.它包括激發(fā)和配有可充電電池的光譜儀主機兩部分.它工作時,既不需要氬氣,也不需要放射源。 1、原理：手持式光譜儀屬于熒光光譜,實驗室用的直讀屬于火花直讀光譜,是激發(fā)源不同 2、精度：手持式光譜儀主要用于定性分析,實驗室用的火花直讀光譜主要用于定量分析 3、分析范圍：手持式光譜儀可分析金屬及礦石,并且可分析一些火花直讀無法激發(fā)的基體,例如鋯基體；實驗室直讀光譜儀雖然分析的基體比手持式的少,但是相同基體里分析的元素種類比手持式的要多。

技術(shù)參數(shù)： 重量： 1.6kg 尺寸： 30cm（L） x 10cm（W） x 28cm（H） 激發(fā)源： X射線管，Ag靶，40kV 檢測器： SI-PIN檢測器 操作系統(tǒng)：HP掌上電腦：Windows 5.0 Bruker 軟件 冷卻系統(tǒng)：Peltier 半導(dǎo)體冷卻系統(tǒng) 電源： 交、直流供電;充電鋰電池 工作條件：溫度：-20 ℃ ～ 55 ℃ 　濕度：0～95%

手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅(qū)逐一個內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時,產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱次級光電效應(yīng)或無效應(yīng)。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特息。

手持式光譜儀設(shè)備維護與保養(yǎng)： 　　
1.手持式光譜儀使用過程中應(yīng)輕拿輕放，防止內(nèi)部零件受損。
 2.保持檢測口薄膜的清潔，檢測口薄膜被污染可能引起檢測誤差。檢測口薄膜破損繼續(xù)使用可能會造成手持式光譜儀的損壞。應(yīng)及時清潔或更換。 　　
3.被檢測物表面的氧化層和污染物等要用砂輪機或金剛砂去除，以免造成測量結(jié)果不準(zhǔn)確，被檢測物表面凹凸不平、有毛刺時應(yīng)在檢測時注意，防止手持式光譜儀檢測口薄膜損壞。檢測鍍件時，要將電鍍層去除。 　　
4.手持式光譜儀電池使用至10%時，應(yīng)更換電池，充電。
手持式光譜儀使用注意事項 　　
1.使用手持式光譜儀應(yīng)注意防護，手持測試時，測試窗口切勿對人，勿空打。 　　
2.分析儀應(yīng)拿妥，帶好腕帶，切勿摔落及撞擊。 　　
3.不能用指甲掐電源鍵等塑料按鍵，要用指腹操作，以免損壞塑膠鍵。 　　
4.手持式光譜儀操作環(huán)境溫度為-5℃~25℃，端使用溫度為-10℃~49℃，不能將手持式光譜儀放在汽車后備箱等高溫地方，若手持式光譜儀過熱，應(yīng)停止工作、關(guān)機使其冷卻10分鐘左右，再重新開機、校正使用。 　　5.不能檢測磁性材料，否則造成手持式光譜儀損壞，不使用時應(yīng)確實關(guān)機并放入手持式光譜儀箱中存放。
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