鍍層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。
鍍層測(cè)厚儀在使用前為減少測(cè)量的誤差，可以進(jìn)行簡(jiǎn)單的調(diào)零。用附送的鋁或者鐵調(diào)零板調(diào)零即可。調(diào)零方法：
1、將探頭垂直按壓在調(diào)零板中間的位置，保持探頭的穩(wěn)定。
2、按下按鍵，屏幕會(huì)提示壓緊探頭，再根據(jù)提示把探頭提起15cm以上。
3、屏幕顯示0.0則調(diào)零完畢。
4、完成后，可以把有標(biāo)準(zhǔn)值的測(cè)試片放在調(diào)零板上測(cè)量。測(cè)量的數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試片的誤差范圍之內(nèi)，則說(shuō)明儀器可以正常使用了。

鍍層測(cè)厚儀因?yàn)椴捎玫氖侵鳈C(jī)與探頭分離式的設(shè)計(jì)，所以在購(gòu)買時(shí)有兩個(gè)不同量程的探頭可以選擇。F5N3的探頭，大量程厚可以測(cè)到5mm，F(xiàn)3N3的探頭，厚可以測(cè)到3mm。
在測(cè)量以mm為單位的鍍層厚度時(shí)，大量程的鍍層測(cè)厚儀LS223就可以滿足您的測(cè)量需求。客戶在選購(gòu)時(shí)可以根據(jù)測(cè)量材料的厚度來(lái)選擇相應(yīng)的探頭。鍍層測(cè)厚儀90天無(wú)理由退換貨，不滿意都可以退。

鍍層測(cè)厚儀有兩種開(kāi)機(jī)使用方法。一種是探頭在測(cè)試過(guò)程中自動(dòng)觸發(fā)開(kāi)機(jī)，并且直接顯示出測(cè)量結(jié)果。這是因?yàn)椴捎昧藬?shù)字探頭，非常的靈敏，會(huì)自動(dòng)識(shí)別出測(cè)量基材，并且自動(dòng)轉(zhuǎn)換。
還有一種是按鍵開(kāi)機(jī)。開(kāi)機(jī)儀器會(huì)顯示探頭型號(hào)，兩種不同量程的探頭可供客戶選擇。

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